E-Newsletter 【新製品およびECOC2017出展のご案内】

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Sep 13, 2017
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ECOC2017 出展のご案内!
光テスト及び測定のための新製品を発表します。
  1. 性能・機能を一新させた第7世代の高速波長可変光源 TSL-770
  2. 新製品のパワーメータMPM-200を組み込んだSwept Test System
  3. 空間光変調器, SLM-100
ECOC2017

Date: 2017/9/17-21
Location: Gothenburg, Sweden
Booth: #270

New! 高性能・高速波長可変レーザ TSL-770

TSL-770は、レーザ共振器および制御回路を完全に新設計することで、従来比2倍の高速性、1.5倍の広帯域スキャンが可能となり、かつ狭スペクトル線幅と低ノイズ化を実現しました。本製品は、1250-1650nmの広範囲から最大200nmを選択可能で、測定のスループット、精度を向上させることができ、評価現場、R&D、基礎研究など様々なアプリケーションで理想的なツールです。

  • 全域モードホップフリー発振を維持して従来機種の2倍となる200nm/sを実現
  • 1250-1650nmの広範囲から最大200nmを選択可能
  • 連続(CW)発振で+13dBm(20mW)のピーク光出力と信号対自然放出光比(SSSER)90dB/0.1nmを両立
  • 0.3pm(Typ.)の高い波長精度と60kHz以下の狭線幅を実現

その他弊社波長可変光源ラインナップはこちら

TSL-550

Swept Test System

Swept Test Systemは、Santecの波長可変光源(TSL-710/ TSL-550/ TSL-510)、光パワーメータ(MPM-200)、Polarization Control Unit PCU-100およびカスタムソフトウェアで構成された 高速、高精度および高分解能にフォトニクステストが効率的に評価できるシステムです。

  • Real-time power referencing
  • Rescaling algorithm
  • Multi-channel measurement is available.
  • Supporting LabVIEW control software
Swept Test System

可視域でλ/40の優れたパネル平面度を実現

反射型LCOSによるSLM-100は、高解像度(1024階調)と優れた位相安定度(<0.002π) を有する空間光変調器です。今回新たに波面補正技術を導入して世界最高レベルの λ/40@633nmを実現しました。

  • 高解像度:10-bit (1024階調)
  • 優れた位相安定度:< 0.002 π rad
  • パネル平面度:< λ/40 @633nm/li>
SLM-100

Coming events

1/ECOC2017 (Sep 19-20,2017)
Gothenburg, Sweden
Booth #270
ECOC2017

2/Frontiers in Optic (Sep 17-21,2017)
Washington Hilton, Washington, District of Columbia, USA
Booth #270
Frontiers in Optic

3/Photonex 2017 (Oct 11-12, 2017)
Ricoh Arena Coventry UK
Booth #B18
Photonex 2017

General product guide 2017

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