E-Newsletter 【新製品および第31回 光通信シンポジウム出展のご案内】

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Dec 12, 2017
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第31回 光通信シンポジウム 出展のご案内!
光テスト及び測定のための新製品を発表します。
  1. 性能・機能を一新させた第7世代の高速波長可変光源 TSL-770
  2. 新製品のパワーメータMPM-200を組み込んだSwept Test System
第31回光通信シンポジウム


Date: 2017/12/19-20
Location: 東レ総合研修センター

New! 高性能・高速波長可変レーザ TSL-770

TSL-770は、レーザ共振器および制御回路を完全に新設計することで、従来比2倍の高速性、1.5倍の広帯域スキャンが可能となり、かつ狭スペクトル線幅と低ノイズ化を実現しました。本製品は、1250-1650nmの広範囲から最大200nmを選択可能で、測定のスループット、精度を向上させることができ、評価現場、R&D、基礎研究など様々なアプリケーションで理想的なツールです。

  • 全域モードホップフリー発振を維持して従来機種の2倍となる200nm/sを実現
  • 1250-1650nmの広範囲から最大200nmを選択可能
  • 連続(CW)発振で+13dBm(20mW)のピーク光出力と信号対自然放出光比(SSSER)90dB/0.1nmを両立
  • 0.3pm(Typ.)の高い波長精度と60kHz以下の狭線幅を実現

その他弊社波長可変光源ラインナップはこちら

TSL-550

Swept Test System

Swept Test Systemは、Santecの波長可変光源(TSL-710/ TSL-550/ TSL-510)、光パワーメータ(MPM-200)、Polarization Control Unit PCU-100およびカスタムソフトウェアで構成された 高速、高精度および高分解能にフォトニクステストが効率的に評価できるシステムです。

  • Real-time power referencing
  • Rescaling algorithm
  • Multi-channel measurement is available.
  • Supporting LabVIEW control software
Swept Test System


Coming events

1/第31回光通信シンポジウム(Dec 19-20,2017)
東レ総合研修センター
第31回光通信シンポジウム

2/BiOS/Photonics West 2018(Jan 27-Feb 1,2018)
The Moscone Center
San Francisco, California, United States
BiOS #8454/ Photonics West #2617
BiOS/Photonics West 2018

General product guide 2017

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