E-Newsletter 【新製品およびFOE2018出展のご案内】

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Mar 28 2018
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FOE2018 出展のご案内!
光テスト及び測定のための新製品を発表します。
  1. 新製品のパワーメータMPM-210を組み込んだSwept Test System
  2. 紫外線耐性を有するLCOS型の空間光変調器 SLM-150
  3. 性能・機能を一新させた第7世代の高速波長可変光源 TSL-770
FOE2018

Date: 2018/4/4-6
Location: 東京ビッグサイト 西ホール
Booth: #W12-7

New!Swept Test System

Swept Test Systemは、Santecの波長可変光源 (TSL-Series)、光パワーメータ (MPM-210)、偏波コントローラユニット (PCU-100)およびカスタムソフトウェアで構成された高速、高精度および高分解能にフォトニクステストが効率的に評価できるシステムです。

  • Real-time power referencing
  • Rescaling algorithm
  • Multi-channel measurement is available.
  • Supporting control software
Swept Test System


New! LCOS型空間光変調器 SLM-150

当社は、2次元の空間光変調器としては、世界初となる紫外線領域で動作するLCOS型の空間光変調器(製品型式:SLM-150)の販売を開始します。同製品は波長365nmにおいて、当社従来製品(SLM-100)に比べて42倍の優れた紫外線耐性を有します。日本が誇る最先端の液晶技術を駆使することで、液晶は紫外線に弱いと認識されていた常識を覆す画期的な紫外線耐性を有する空間光変調器が実現しました。当社対応する波長範囲が紫外域に拡張されたことによってレーザー加工、バイオセンシング、3Dプリンティング、ICトリミングなどのアプリケーションにも適用できるようになりました。

SLM-150

Coming soon 高性能・高速波長可変レーザ TSL-770

TSL-770は、レーザ共振器および制御回路を完全に新設計することで、従来比2倍の高速性、1.5倍の広帯域スキャンが可能となり、かつ狭スペクトル線幅と低ノイズ化を実現しました。本製品は、1250-1650nmの広範囲から最大200nmを選択可能で、測定のスループット、精度を向上させることができ、評価現場、R&D、基礎研究など様々なアプリケーションで理想的なツールです。

  • 全域モードホップフリー発振を維持して従来機種の2倍となる200nm/sを実現
  • 1250-1650nmの広範囲から最大200nmを選択可能
  • 連続(CW)発振で+13dBm(20mW)のピーク光出力と信号対自然放出光比(SSSER)90dB/0.1nmを両立
  • 0.3pm(Typ.)の高い波長精度と60kHz以下の狭線幅を実現

その他弊社波長可変光源ラインナップはこちら

TSL-550

Coming events

1/FOE 2018 (Apr 4-6, 2018)
東京ビッグサイト 西ホール
Booth #W12-7
FOE2018

2/Photonics Europe (Apr 22-26, 2018)
Strasbourg Convention & Exhibition Centre Strasbourg, France
Booth #412B
Photonics Europe

3/CLEO 2018 (May 15-17, 2018)
San Jose Convention Center, San Jose, California, USA
Booth #2235
CLEO 2018

General product guide 2018

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