E-Newsletter 【新製品およびCLEO 2018出展のご案内】

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May 10 2018
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CLEO 2018 出展のご案内!
光テスト及び測定のための新製品を発表します。
  1. 高出力、高信号対雑音比を実現した高性能波長可変光源 TSL-550
  2. 新製品のパワーメータMPM-210を組み込んだSwept Test System
  3. 解像度・機能を向上させた第2世代のLCOS型空間光変調器
CLEO 2018

Date: 2018/5/15-17
Location: San Jose Convention Center, San Jose, California, USA
Booth: #2235

高性能波長可光源 TSL-550

高出力と高い信号対雑音比を両立させ従来機種から性能を向上させた新型波長可変LD光源 (製品型式:TSL-550)を開発いたしました。波長モニタを搭載しつつコストパフォーマンスが非常に高いスタンダードモデルのType Aおよび高波長精度モデルのType Cの2種類をラインナップとして揃えております。

  • 広帯域波長範囲 (1260-1680nmの範囲から選択)
  • 高出力: +10dBm以上
  • 高信号対雑音比: 90dB/0.1nm
  • 高波長精度: ±5pm (Type C)、±20pm (Type A)
  • その他弊社波長加減光源ラインナップはこちら

TSL-550

New!Swept Test System

Swept Test Systemは、Santecの波長可変光源 (TSL-Series)、光パワーメータ (MPM-210)、偏波コントローラユニット (PCU-100)およびカスタムソフトウェアで構成された高速、高精度および高分解能にフォトニクステストが効率的に評価できるシステムです。

  • Real-time power referencing
  • Rescaling algorithm
  • Multi-channel measurement is available.
  • Supporting control software
Swept Test System

New! Full-HD対応LCOS型空間光変調器 SLM-200/SLM-250

当社は、当社第1世代の液晶LCOS(Liquid Crystal on Silicon)技術を用いた空間光変調器(製品型式:SLM-100)の後継機として、LCOSの解像度を大幅に向上させた第2世代となる空間光変調器の販売します。同製品はSLM-100で実現した他社比4倍優れた10-bit 1024階調度と10倍以上優れた位相安定度に加えて、今回、当社従来比1.5倍の230万画素(解像度1920×1200)の高精細パネルを採用しております。紫外線耐性モデル(製品型式:SLM-250)はSLM-150の後継機にあたります。

SLM-200 SLM-250
SLM-200(Separateモデル)               SLM-250 (紫外耐性モデル)


Coming events

1/CLEO 2018 (May 15-17, 2018)
San Jose Convention Center, San Jose, California, USA
Booth #2235
CLEO 2018
2/OIC 2018 (Jun 4-6, 2018)
Santa Fe, New Mexico USA
OIC 2018

General product guide 2018

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