2009/06/30 | 2009年度プレスリリース

製品名：偏光消光比モニタ
型名：PEM-330

サンテックは光通信に用いられる光コンポーネント、サブシステム、光測定機器を開発、製造して参りました。
このたび、レーザーダイオードや光導波路といった光素子に偏波面保存ファイバ(以下PMF)を接続する際の偏光軸調整・検査に用いられる偏光消光比モニタで機能向上した製品の販売を開始いたしました。従来から販売している偏光消光比モニタPEM-320では、測定可能な波長範囲が1550nm±30nm又は1310nm±30nmと限られておりました。今回のPEM-330においては、対応できる波長範囲を1260～1630nmまで広げ、1台で光通信に使用される波長範囲のすべてを網羅できる製品となっており、必要な測定波長に合わせて設備を準備することがなくなるため、設備導入コストの削減に貢献できます。
すべての機能やコンピュータとの通信コマンド及びコンパクトな外形サイズは、そのまま継承しております。

特徴

* 測定波長範囲    1260-1630nm
* 消光比、光強度、および偏光軸角度を同時に表示
* 最大40dBまでの偏光消光比をリアルタイムに計測可能

用途

* 偏光軸調整を伴う光部品のアセンブリ
* コネクタ付PMFパッチコードの評価
* PMF付レーザーダイオードの評価

販売予定

2009年6月から販売開始

お問い合せ先

santec株式会社
〒485-0802 愛知県小牧市大草年上坂5823
フォトニクスバレー大草キャンパス
営業統括部 担当 : 佐々木 伸幸
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