光測定器

光測定器

光技術を応用し、産業用分析に用いたり、製品評価などにお使いいただけます。

 

光部品/光通信システム測定

光源装置

波長可変光源 TSL-710

波長可変光源 TSL-550

High Speed Swept Test System

Full-band TSL

波長可変光源 WSL-100

波長可変光源 MSL-100

高速波長スキャニングレーザー HSLシリーズ

光ファイバ用手動調節部品

波長表示器付き波長可変光フィルタ OTF-320

可変光フィルタ OTF-350

可変光ディレイライン ODL-340

実験装置、測定装置

波長可変光フィルタ OTF-930

波長・帯域幅可変光フィルタ OTF-970

電動型波長・帯域幅可変光フィルタ OTF-980

Multi-Port Optical Power Meter MPM-200/MPM-10

偏光消光比モニタ PEM-330

Polarized Light Source PLS-100

バランスディテクタ BPD-200

 

分光分析

[光源装置] 波長可変光源 TSL-710

[光源装置] 波長可変光源 TSL-550

[光源装置] High Speed Swept Test System

[光源装置] Full-band TSL

[光源装置] 高速波長スキャニングレーザー HSLシリーズ

 

歪み、温度、加速度センサ測定

[光源装置] 波長可変光源 TSL-710

[光源装置] 波長可変光源 TSL-550

[光源装置] High Speed Swept Test System

[光源装置] Full-band TSL

[光源装置] 高速波長スキャニングレーザー HSLシリーズ

 

3次元微細構造イメージング

[測定装置] OCT非破壊光断層測定システム IVS-2000