光技術を応用し、産業用分析に用いたり、製品評価などにお使いいただけます。

 

光部品測定

光源装置

波長可変光源　TSL-510

波長可変光源　WSL-100

超広帯域光源　UWS-1000

高速波長スキャニングレーザー　HSLシリーズ

光ファイバ用手動調節部品

可変アッテネータ　OVA-20M

小型波長可変光フィルタ　OTF-30M

波長表示器付き波長可変光フィルタ　OTF-320

可変光フィルタ　OTF-350

可変光ディレイライン ODL-340

実験装置、測定装置

波長可変光フィルタ　OTF-930

波長・帯域可変光フィルタ　OTF-950

偏光消光比モニタ　PEM-330

バランスディテクタ　BPD-200

 

光ファイバ測定

光源装置

波長可変光源　TSL-510

波長可変光源　WSL-100

超広帯域光源　UWS-1000

測定装置

偏波モード分散測定装置　PMD-6000B

 

光通信システム測定

光源装置

波長可変光源　TSL-510

波長可変光源　WSL-100

超広帯域光源　UWS-1000

高速波長スキャニングレーザー　HSLシリーズ

光ファイバ用手動調節部品、機器

可変アッテネータ　OVA-20M

波長表示器付き波長可変光フィルタ　OTF-320

可変光フィルタ　OTF-350

実験装置

波長可変光フィルタ　OTF-930

波長・帯域可変光フィルタ　OTF-950

 

分光分析

[光源装置]　波長可変光源　TSL-510

[光源装置]　超広帯域光源　UWS-1000

[光源装置]　高速波長スキャニングレーザー　HSLシリーズ

 

歪み、温度、加速度センサ測定

[光源装置]　波長可変光源　TSL-510

[回路用光ファイバ部品]　波長ロッカー　OWL-10

[光源装置]　高速波長スキャニングレーザー　HSLシリーズ

 

3次元微細構造イメージング

[測定装置]　OCT非破壊光断層測定システム　IVS-2000