Swept Test System STS-510
SantecのSwept Test System STS-510は高速、高精度および高分解能にフォトニクステストが効率的に評価できるように開発されました。Santecの第5世代波長可変光源TSL-510、Swept Processing Unit SPU-100およびカスタムソフトウェアで構成されたシステム STS-510は、光コンポーネントやモジュールのWDL特性測定が可能で生産ラインやR&Dなど幅広い分野でご利用いただけます。TSL-510からの出力パワーモニタとDUTを透過した光パワーを同時に測定してリアルタイムにリファレンスを取得することで高精度にWDL特性を測定できます。本システムは、特にDWDMコンポーネントとHi- Qフォトニックデバイスに要求される透過スペクトルの特性評価に適しています。高速掃引と高精度な測定は、測定時間を節約し確実に正確にデバイス特性評価を保証します。
STS-510はsantec 波長可変光源 TSL-510、Swept Processing Unit SPU-100 およびお手持ちのパワーメータで簡単にシステムSTS-510を構築することができます。また、パワーメータの代わりにPhoto Detectorにてシステムを提供することも可能になります。
特徴
- リアルタイムにパワーのリファレンス取得可能
-高精度にWDL特性測定可能 (高いパワー再現性 <+/-0.02dB)
-レーザーパワーを自動的に規格化
-パワーリファレンス用に追加でパワーメータが不要 - Swept Processing Unit(SPU-100)を用いたリスケーリングアルゴリズム採用-高波長分解能および高波長精度-高速測定を実現して測定時間を短縮
- マルチチャンネル測定対応可能
- お手持ちのパワーメータで簡単にシステム構築可能
- シェアードライブラリサポート (DLLファイル)
-データ解析機能付
アプリケーション
- Optical components and modules characterization
- Photonic material characterization
- Optical spectroscopy
構成例
- Tunable Laser TSL-510
- Swept Processing Unit SPU-100
- Optical power meter (ロギング機能必要)
WDL (Wavelength Dependent Loss) 測定
1. 測定ダイナミックレンジ
TSL-510にはSNRの違いによるHigh SN VersionとHigh Power Versionがあります。バンドパスフィルタとノッチフィルタの透過特性を測定した結果を示します。High SN Versionを用いて測定した場合、特にノッチフィルタにて優れたダイナミックレンジを得ることが出来ます。(例 FBG フィルタやインターリーバー)
2.測定波長精度
TSL-510には波長モニタを内蔵したオプションがあります。波長モニタ内蔵オプション付きTSL-510を使用して測定した結果を示します。(Acetylene (12C2H2 )gas cellを波長リファレンスとして使用)
| R Branch | AbsorptionWavelength[nm] * | SantecWavelength[nm] | P Branch | AbsorptionWavelength[nm] * | SantecWavelength[nm] |
| 13 | 1518.2131 | 1518.212 | 5 | 1528.01432 | 1528.015 |
| 11 | 1519.13686 | 1519.137 | 7 | 1529.1799 | 1529.180 |
| 9 | 1520.0860 | 1520.086 | 9 | 1530.3711 | 1530.371 |
| 7 | 1521.06040 | 1521.061 | 11 | 1531.5879 | 1531.588 |
| 5 | 1522.0603 | 1522.060 | 13 | 1532.83045 | 1532.830 |
* NIST Special Publication 260-133 2001 Edition
仕様
| Parameter | Unit | Specifications | Notes | |||
 TSL-510 Type |
- | Type A | Type B | Type C | Type D | |
| Dynamic range *1,5 | dB | 50 | 70 | 50 | 70 | Bandpass filter |
| dB | 30 | 70 | 30 | 70 | Notch filter | |
| Absolute wavelength accuracy *2,5 | pm | +/-57 | +/-4.8 | at 10nm/s | ||
| Relative wavelength accuracy *2,5 | pm | +/-27 | +/-3.3 | at 10nm/s | ||
| Wavelength repeatability *5 | pm | +/-11 | +/-1.5 | at 10nm/s | ||
| Scan speed | nm/s | 5 to 40 | ||||
| Wavelength resolution | pm | 1 | ||||
| Power resolution | dB | 0.01 | ||||
| Power repeatability *3,5 | dB | +/-0.02 | ||||
| Outputs fromDUT measured *4 | - | 1 | ||||
| Communication | - | USB (USB 2.0 High Speed) | SPU-100 / PC | |||
| GP-IB (IEEE488.2) | TSL-510 / OPM / PC | |||||
| OperatingTemperature | degC | 15 to 35 | ||||
| Operating humidity | % | <80 | non condensing | |||
| * All specifications are quoted after 1 hour warm-up period.All specifications applies when Agilent optical power meter 816x+816xx.*1 This value depends on scan speed.The measurement condition is within wavelength resolution 1pm, wavelength range 40nm for 1 channel.*2 Temperature within 25ºC±5ºC*3 Averaging time 100us
*4 Multi channel is available. *5 Typical value |
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ソフトウェアサポート
- Agilent 816xA/B, 774xA optical power meter
- Yokogawa AQ2200 series optical power meter
- Photo detector
上記以外の機種もご要望にお応えいたします。お問い合わせください
