TSL-710

TSL-710

波長可変光源 (Premium model)

TSL-710
-1987年、santecは世界に先駆けて、初めて商用の波長可変光源の開発に成功しました。それ以来、お客様のご要望にお答えする様々な革新的技術の実用化に成功し、現在santecの波長可変光源は世界各国の様々な応用分野にてご利用頂いております。この度、プレミアムモデルとなる高出力と高い信号対雑音比を両立させ従来機種の性能を倍増させた新型波長可変LD光源(製品型式:TSL-710)を開発いたしました。

 

フラグシップモデルはこちらへ⇒TSL-770

コストパフォーマンスの高い光源をお求めの方はこちらへ⇒TSL-550

 

 

概要

高出力と高い信号対雑音比を両立させ広帯域可変が可能なTSL-710は高精度な評価や実験のマストアイテムとして活用いただけます。TSL-710はASE光雑音を低減し90dB/0.1nm以上の非常に高い信号対雑音比を実現しながら、同時に+10dBm以上の高い光出力を維持する革新的な外部共振器を採用しています。さらに、1つのレーザーで160nmの広帯域波長可変範囲と100kHz以下の発振線幅の性能を有しています。また、高機能な波長モニタを内蔵することにより、±2pmの高波長精度、0.1pmの高波長分解能の優れた波長特性を実現しています。
SCPI準拠した外部通信コマンドをサポートしており、リモートコントロールや自動計測に最適です。別途提供する専用ソフトウェアを用いれば、WDL/PDL評価も可能となります。(Swept Test System)

 

特徴

  • Wide Wavelength Range 1480-1640nm (SCL-Band)
    If you request other wavelength range, please refer to TSL-550(O&CL-band), TSL-510(O, E, S ,U and CL-band).
  • Built in wavelength monitor with High Wavelength Accuracy ±2pm
  • Wavelength Resolution 0.1pm
  • High Output Power 10dBm
  • High Signal-to-Noise Ratio 90dB/0.1nm
  • Narrow Linewidth 100kHz
  • Swept Test System オプション対応
    -(光コンポーネントおよびモジュールを高速、高精度、高分解能でWDL/PDL特性評価可能)

 

アプリケーション&応用例

アプリケーション
  • Optical component characterization
  • Fiber optic transmission testing
  • Photonic material characterization
  • Interferometry
  • Optical spectroscopy

応用例 / 詳細はこちらをご覧ください->Swept Test System

高性能波長可変光源 TSL-710 は、光部品などの波長特性の測定を光パワーメータや光スペクトラムアナライザ(OSA)と連係動作させておこなうことができます。設定と測定作業を簡単な操作でおこなうことができる測定ソフトウェアもご用意しております。

測定ソフトウェアのサポート
下記の機種については、サポート可能です。

santec MPM-200 光パワーメータ
Agilent 816xA/B, N774xA 光パワーメータ
横河電機 AQ2200シリーズ 光パワーメータ、 AQ6317x、AQ6319、AQ6370x 等の光スペクトラムアナライザ
dBmOptics コンポーネントスペクトラムアナライザ
Fiberpro CA3000 コンポーネントアナライザ
上記以外の機種もご要望にお応えいたします。

 

特性

Wavelength vs. Output power

–Wide Wavelength Range–

Optical Spectrum

–High Output Power & High Signal-to-Noise Ratio–

 

関連製品

TSL-550

NEW! 波長可変光源 TSL-770

第7世代となる高性能・高速波長可変レーザとなる弊社フラッグシップモデル
learn_more_text


TSL-550

波長可変光源 TSL-550

広帯域可変が可能なsantecのマーケットリーダーモデル
learn_more_text


 Full-band TSL

Full-band TSL

1260-1680nm(O-band~U-band)の超広帯域な高性能波長可変光源システム
learn_more_text


SweptTestSystem

Swept Test System

高速、高精度および高分解能に光デバイスのWDL/PDL評価が可能なシステム
learn_more_text


MPM-200/MPM-10

MPM-200/MPM-10

最大20portまで搭載可能なマルチ光パワーメータ
learn_more_text

 
 


お問い合わせフォーム