E-Newsletter 【新製品およびBiOS/Photonics West 出展のご案内】

1. 性能・機能を一新させた第7世代の高速波長可変光源 TSL-770
2. 新製品のパワーメータMPM-200を組み込んだSwept Test System
3. 紫外線耐性を有するLCOS型の空間光変調器 SLM-150

New! 高性能・高速波長可変レーザ TSL-770

TSL-770は、レーザ共振器および制御回路を完全に新設計することで、従来比2倍の高速性、1.5倍の広帯域スキャンが可能となり、かつ狭スペクトル線幅と低ノイズ化を実現しました。本製品は、1250-1650nmの広範囲から最大200nmを選択可能で、測定のスループット、精度を向上させることができ、評価現場、R&D、基礎研究など様々なアプリケーションで理想的なツールです。

• 全域モードホップフリー発振を維持して従来機種の2倍となる200nm/sを実現
• 1250-1650nmの広範囲から最大200nmを選択可能
• 連続（CW）発振で+13dBm(20mW)のピーク光出力と信号対自然放出光比（SSSER）90dB/0.1nmを両立
• 0.3pm(Typ.)の高い波長精度と60kHz以下の狭線幅を実現

その他弊社波長可変光源ラインナップはこちら

Swept Test System

Swept Test Systemは、Santecの波長可変光源(TSL-710/ TSL-550/ TSL-510)、光パワーメータ(MPM-200)、Polarization Control Unit PCU-100およびカスタムソフトウェアで構成された 高速、高精度および高分解能にフォトニクステストが効率的に評価できるシステムです。

• Real-time power referencing
• Rescaling algorithm
• Multi-channel measurement is available.
• Supporting LabVIEW control software

New! LCOS型空間光変調器 SLM-150

当社は、2次元の空間光変調器としては、世界初となる紫外線領域で動作するLCOS型の空間光変調器（製品型式：SLM-150）の販売を開始します。同製品は波長365nmにおいて、当社従来製品(SLM-100)に比べて42倍の優れた紫外線耐性を有します。日本が誇る最先端の液晶技術を駆使することで、液晶は紫外線に弱いと認識されていた常識を覆す画期的な紫外線耐性を有する空間光変調器が実現しました。当社対応する波長範囲が紫外域に拡張されたことによってレーザー加工、バイオセンシング、3Dプリンティング、ICトリミングなどのアプリケーションにも適用できるようになりました。

Coming events

1/BiOS/Photonics West(Jan 27-Feb 1,2018)
The Moscone Center
San Francisco, California, United States
BiOS #8454/ Photonics West #2617

2/OFC 2018 (Mar 13-15, 2018)
San Diego Convention Center, San Diego, California, USA

Booth #2738

General product guide 2018