E-Newsletter 【新製品およびCIOE2018 出展のご案内】

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Aug 29 2018
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CIOE 2018
出展のご案内!

光テスト及び測定のための新製品をご紹介します。
 
  1. 新製品のパワーメータMPM-210を組み込んだSwept Test System
  2. 高性能波長可変光源
  3. 偏光消光比モニタ PEM-340
 
CIOE 2018

Date: 2018/9/5-8
Location: Shenzen,China
Booth: #1165,1166

New!Swept Test System

Swept Test Systemは、Santecの波長可変光源 (TSL-Series)、光パワーメータ (MPM-210)、偏波コントローラユニット (PCU-100)およびカスタムソフトウェアで構成された高速、高精度および高分解能にフォトニクステストが効率的に評価できるシステムです。

  • Real-time power referencing
  • Rescaling algorithm
  • Multi-channel measurement is available.
  • Supporting control software
Swept Test System

New! TSLシリーズ TSL-770/TSL-710/TSL-550

santecのTSLシリーズは高性能波長可変レーザー光源です。ASE光雑音を低減し 90dB/0.1nm以上の非常に高い信号対雑音比を実現しながら、同時に高い光出力を維持する 革新的な外部共振器を採用しています。また、非常に高い波長分解能を有しており、 シリコンフォト二クスなどの光デバイスの特性評価や研究分野での評価用光源として最適です。td>

  • 多彩な波長ラインナップ(1250-1680nm)
  • 最高200nm/sの高速波長可変
  • 最大光出力 : +13dBm以上
  • Low SSE: 90dB/0.1nm
  • 波長依存性・偏波依存性測定
  • シリコンフォトニクス特性評価

偏光消光比モニタ PEM-340

PEM-340は、偏光子を高速回転させ、検出される光量の変化から消光比を求める 偏光消光比モニタで偏波面保存ファイバの偏光軸アライメントに最適です。 測定光波長は1260nm~1630nmのフルバンドをカバーしており、ノーマルパワー仕様は+10~-40dBm、 ハイパワー仕様は+20~-20dBmの光入力に対して 最大50dBまで偏波消光比の測定が可能です。 偏光消光比・偏光角度・入力光強度の同時測定が可能で、アナログ電圧信号での出力も可能です。

  Swept Test System
 

Coming events

1/CIOE 2018(Sep 5 - 8, 2018)
Shenzen,China
Booth #1165,1166
CIOE2018

2/Photon2018 (Sep 3 - 6, 2018)
Birmingham,UK
Booth #13
Photon2018

3/The 55th Fullerenes-Nanotubes-Graphene General Symposium (Sep 11 - 13, 2018)
Aoba Science Hall, Tohoku University

The 55th Fullerenes-Nanotubes-Graphene General Symposium

4/FiO2018 (Sep 16 - 20, 2018)
Washington, District of Columbia United States
Booth #311
FiO2018

5/ECOC 2018 (Sep 24 - 26, 2018)
Roma – Italy
Booth #447

ECOC 2018

General product guide 2018

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