E-Newsletter 【新製品および第32回光通信シンポジウム出展のご案内】

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Dec 11 2018
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第32回光通信シンポジウム
出展のご案内!

光テスト及び測定のための新製品をご紹介します。
  1. 新製品のパワーメータMPM-210を組み込んだSwept Test System
  2. 高性能波長可変光源
  3. 偏光消光比モニタ PEM-340
第32回光通信シンポジウム

Date: 2018/12/18-19
Location: 東レ総合研修センター(静岡県三島市)
Booth: #12

New!Swept Test System

Swept Test Systemは、Santecの波長可変光源 (TSL-Series)、光パワーメータ (MPM-210)、偏波コントローラユニット (PCU-100)およびカスタムソフトウェアで構成された高速、高精度および高分解能にフォトニクステストが効率的に評価できるシステムです。

  • Real-time power referencing
  • Rescaling algorithm
  • Multi-channel measurement is available.
  • Supporting control software
Swept Test System

New! TSLシリーズ TSL-770/TSL-710/TSL-550

santecのTSLシリーズは高性能波長可変レーザー光源です。ASE光雑音を低減し 90dB/0.1nm以上の非常に高い信号対雑音比を実現しながら、同時に高い光出力を維持する 革新的な外部共振器を採用しています。また、非常に高い波長分解能を有しており、 シリコンフォト二クスなどの光デバイスの特性評価や研究分野での評価用光源として最適です。td>

  • 多彩な波長ラインナップ(1260 – 1680 nm)
  • 最高200nm/sの高速波長可変
  • 最大光出力 : +13dBm以上
  • Low SSE: 90dB/0.1nm
  • 波長依存性・偏波依存性測定
  • シリコンフォトニクス特性評価

偏光消光比モニタ PEM-340

PEM-340は、偏光子を高速回転させ、検出される光量の変化から消光比を求める 偏光消光比モニタで偏波面保存ファイバの偏光軸アライメントに最適です。 測定光波長は1260nm~1630nmのフルバンドをカバーしており、ノーマルパワー仕様は+10~-40dBm、 ハイパワー仕様は+20~-20dBmの光入力に対して 最大50dBまで偏波消光比の測定が可能です。 偏光消光比・偏光角度・入力光強度の同時測定が可能で、アナログ電圧信号での出力も可能です。

Swept Test System

Coming events

1/第32回光通信シンポジウム 2018(Dec 18 - 19, 2018)
東レ総合研修センター(静岡県三島市)
Booth #12
第32回光通信シンポジウム

2/Bios/PW (Feb 2 - 7, 2019)
The Moscone Center, San Francisco, California, United States
BiOS Booth #8762, Photonics West Booth #762
Bios/PW

3/OFC 2019(Mar 3 - 7, 2019)
San Diego Convention Center, San Diego, California, USA
Booth #3531
OFC 2019

General product guide 2018

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