E-Newsletter 【新製品およびOFC 2019出展のご案内】

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Feb 19 2019
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OFC 2019 出展のご案内!
光テスト及び測定のための新製品をご紹介します。
 
  1. 新製品のパワーメータMPM-210を組み込んだSwept Test System
  2. 高性能波長可変光源
  3. 小型波長可変フィルタ MTF
 
OFC 2019
 

New! Swept Test System

Swept Test Systemは、Santecの波長可変光源 (TSL-Series)、光パワーメータ (MPM-210)、偏波コントローラユニット (PCU-100)およびカスタムソフトウェアで構成された高速、高精度および高分解能にフォトニクステストが効率的に評価できるシステムです。

  • Real-time power referencing
  • Rescaling algorithm
  • Multi-channel measurement is available.
  • Supporting control software
Swept Test System

TSLシリーズ TSL-770/TSL-710/TSL-550

santecのTSLシリーズは高性能波長可変レーザー光源です。ASE光雑音を低減し 90 dB/0.1nm以上の非常に高い信号対雑音比を実現しながら、同時に高い光出力を維持する 革新的な外部共振器を採用しています。また、非常に高い波長分解能を有しており、シリコンフォト二クスなどの光デバイスの特性評価や研究分野での評価用光源として最適です。

  • 多彩な波長ラインナップ(1260-1680 nm)
  • 最高200 nm/sの高速波長可変
  • 最大光出力 : +13 dBm以上
  • Low SSE: 90 dB/0.1nm
  • 波長依存性・偏波依存性測定
  • シリコンフォトニクス特性評価

New! 小型波長可変フィルタ MTF

今回、当社が製品化した超小型波長可変フィルタ製品(型式:MTF)は400 Gb/s超の次世代高速大容量光トランシーバの光増幅後の雑音光除去を行う光部品です。 当社従来製品に比べて体積比で80%減を実現し、CFP, CFP2, CFP8に代表されるsmall form factor標準規格に適合する光トランシーバに最適な仕様規格を実現しました。 また市場顧客の要請に応え、最大12Vの低電圧駆動が実現しました。従来は最大60Vの高電圧駆動が必要で、専用の高電圧ICの搭載が不可欠でした。MTFはこのような信頼度の低いドライバICを不要とし直接駆動が可能です。 Swept Test System

Coming events

1/OFC 2019(2019年3月3日~7日)
OFC 2019
2/PIC International (2019年3月26日~27日)
Brussels, Belgium

PIC International

General product guide 2018

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