E-Newsletter 【新製品およびCLEO 2019出展のご案内】

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Apr 25 2019
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CLEO 2019 出展のご案内!
光テスト及び測定のための新製品をご紹介します。
  1. 新製品のパワーメータMPM-210を組み込んだSwept Test System
  2. 高性能波長可変光源
  3. 高出力レーザー向けLCOS型空間光変調器
CLEO 2019

New! Swept Test System

Swept Test Systemは、Santecの波長可変光源 (TSL-Series)、光パワーメータ (MPM-210)、偏波コントローラユニット (PCU-100)およびカスタムソフトウェアで構成された高速、高精度および高分解能にフォトニクステストが効率的に評価できるシステムです。

  • Real-time power referencing
  • Rescaling algorithm
  • Multi-channel measurement is available.
  • Supporting control software
Swept Test System

TSLシリーズ TSL-770/TSL-710/TSL-550

santecのTSLシリーズは高性能波長可変レーザー光源です。ASE光雑音を低減し 90 dB/0.1nm以上の非常に高い信号対雑音比を実現しながら、同時に高い光出力を維持する 革新的な外部共振器を採用しています。また、非常に高い波長分解能を有しており、シリコンフォト二クスなどの光デバイスの特性評価や研究分野での評価用光源として最適です。

  • 多彩な波長ラインナップ(1260-1680 nm)
  • 最高200 nm/sの高速波長可変
  • 最大光出力 : +13 dBm以上
  • Low SSE: 90 dB/0.1nm
  • 波長依存性・偏波依存性測定
  • シリコンフォトニクス特性評価

New! 高出力レーザー向けLCOS型空間光変調器 SLM-300

santecは液晶及び、放熱構造を最適化した世界最高レベルの高出力レーザー向け空間光変調器(製品型式:SLM-300)を開発しました。当社従来比100倍の200W(ワット)クラスの高出力レーザーにご利用頂けるLCOS型空間光変調器です。
水冷ヒートシンクを備えたLCOSヘッドを採用しており、対応波長は532 nm、800 nm、1064 nmの3波長となります。これによりレーザー加工、3Dプリンター、IC用レーザートリミングなど主だった波長帯の高出力レーザーを用いた加工が可能となります。
SLM-300

Coming events

1/CLEO 2019(2019年5月7日~9日)
San Jose McEnery Convention Center, San Jose, California, USA
Booth #2235

CLEO 2019

2/Laser World of Photonics (2019年6月24日~27日)
Messe Munchen, Munich, Germany
Booth #435
PIC International

General product guide 2019

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