E-Newsletter 【新製品およびEXAT 2019出展のご案内】

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May 21 2019
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EXAT 2019 出展のご案内!
光テスト及び測定のための新製品をご紹介します。
  1. 新製品のパワーメータMPM-210を組み込んだSwept Test System
  2. 高性能波長可変光源
  3. 非常に急峻なフィルタスロープを持つ波長可変フィルタ OTF-980
EXAT2019

Date: 2019/05/29-31
Location: 伊勢市生涯学習センターいせトピア
Booth: #8

New! Swept Test System

Swept Test Systemは、Santecの波長可変光源 (TSL-Series)、光パワーメータ (MPM-210)、偏波コントローラユニット (PCU-100)およびカスタムソフトウェアで構成された高速、高精度および高分解能にフォトニクステストが効率的に評価できるシステムです。

  • Real-time power referencing
  • Rescaling algorithm
  • Multi-channel measurement is available.
  • Supporting control software
Swept Test System

TSLシリーズ TSL-770/TSL-710/TSL-550

santecのTSLシリーズは高性能波長可変レーザー光源です。ASE光雑音を低減し 90 dB/0.1nm以上の非常に高い信号対雑音比を実現しながら、同時に高い光出力を維持する 革新的な外部共振器を採用しています。また、非常に高い波長分解能を有しており、シリコンフォト二クスなどの光デバイスの特性評価や研究分野での評価用光源として最適です。

  • 多彩な波長ラインナップ(1260-1680 nm)
  • 最高200 nm/sの高速波長可変
  • 最大光出力 : +13 dBm以上
  • Low SSE: 90 dB/0.1nm
  • 波長依存性・偏波依存性測定
  • シリコンフォトニクス特性評価

Coming events

1/CLEO 2019(2019年5月29日~31日)
伊勢市生涯学習センターいせトピア
Booth #8

EXAT2019

2/FOE 2019 (2019年7月17日~19日)
東京ビックサイト
Booth #10-20
FOE2019

General product guide 2019

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