光学特性検査システム
当社製品を組合わせて光学特性を測定するコンプリートシステムの提供も行っております。
昨今、測定の高速化や高精度化が求められていますが、お客様のご要望に合わせシステム化を行いますのでお気軽にご相談ください。
Swept Test System for Optical Components
Swept Test System
波長可変レーザー(TSLシリーズ)、パワーメータ(MPM)、偏波コントロールユニット(PCU-110)、及び、カスタムソフトを組み合わせることで、IL/WDL/PDLをR&Dや生産ラインで効率的に測定、評価していただくことが出来ます。
Multi-Station Measurement
Swept Test SystemにMulti Branch Unitを組み合わせることによって検査、評価の効率化をさらに図ることが可能です。
Swept Test System 紹介動画
( マルチステーション )
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光部品評価に最適なマルチポート光パワーメータ
MPM-210H
MPM-211, 212, 213, 215
複数ポートの光部品の光学特性を高速測定可能
- 高速測定可能 (各ポートで最大100万ロギングポイント)
- 1台で最大20ポート測定可能(複数台同時使用可能)
- パワーメーターモジュール (MPM-211 / 212 / 215)
- 電流計モジュール (MPM-213)
MPM-210H/MPM-211, 212, 213, 215
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