Think Precise
光学特性検査装置
当社製品を組合わせて光学特性を測定するコンプリートシステムの提供も行っております。
昨今、測定の高速化や高精度化が求められていますが、お客様のご要望に合わせシステム化を行いますのでお気軽にご相談ください。
Swept Test System for Optical Components
Swept Test System
波長可変光源(TSLシリーズ)、パワーメータ(MPM)、偏波コントロールユニット(PCU-110)、及び、カスタムソフトを組み合わせることで、IL/WDL/PDLをR&Dや生産ラインで効率的に測定、評価していただくことが出来ます。Multi-Station Measurement
Swept Test SystemにMulti Branch Unitを組み合わせることによって検査、評価の効率化をさらに図ることが可能です。
Swept Test System introduction video
( Multi-station measurement )
波長可変光源 (TSLシリーズ)とマルチポートパワーメータ(MPMシリーズ)、偏光制御ユニット（PCU-110）および専用ソフトウェアを組み合わせたSwept Test Systemは、光学デバイスの研究開発や生産現場の両場面で最適な評価ツールとなっております。波長可変光源からの出力パワーをリアルタイムにリファレンスしDUTを透過した光パワーを同時に取得することで、高精度にIL/WDL/PDLが測定可能です。本システムは、ミュラーマトリックス法を使用してPDLを算出しています。
- リアルタイムパワーリファレンス
- 高精度にIL/WDL / PDL特性測定可能
- 高いIL再現性<± 0.02 dB
- 高いPDL再現性± 0.01 dB - スケーリングアルゴリズム
- 高い波長分解能と波長精度で測定可能
- 測定時間の短縮が可能 - マルチチャンネル測定が可能
- グラフィカルユーザーインターフェースとDLLのサポート（Visual Studio）
- 測定パラメーターを簡単に設定可能
- データ分析
WDL（波長依存損失）測定
80 dB以上の高ダイナミックレンジ測定
当社の波長可変光源TSLシリーズは、光ASEノイズを低減する革新的な設計による共振器が搭載されており、非常に高い信号対雑音比と高い光出力パワーの実現を両立しています。そのため本システムは、高ダイナミックレンジ特性を有する光部品を複数ポート同時に特性評価が可能です。
次の図は、それぞれCWDMフィルターとノッチフィルター（FBGなど）の測定データを示しています。
高波長精度+/- 3 pm
TSLシリーズには、標準で波長モニターが装備されているため、光部品を高精度に測定することが可能です。
次の図は、アセチレン（12C2H2）ガスの吸収線を測定波長したもので、非常に高い測定精度で測定できていることがわかります。
0.1 pm未満の高波長分解能
本システムは、WDM用光部品だけでなく狭線幅フィルターも高い波長分解能でWDL及びPDL測定が可能です。
図は、Ultra-high Q キャピティデバイスを測定したもので、0.1 pm以下の分解能で測定できていることがわかります。
- 光部品、モジュール評価
- 波長選択スイッチ(WSS)、AWG、波長ブロッカー
- 波長可変フィルタ、インターリーバ、FBG、カプラ、アイソレータ、光スイッチ
- DWDM 部品 - フォトニックデバイス/マイクロキャビティ共振器評価
- 分光計測
構成例
1. PDL(Polarization Dependent Loss)測定
- 波長可変光源 TSL-770 / TSL-710 / TSL-550
- 偏波コントローラ PCU-110
- 光パワーメータ MPM-210
2. WDL(Wavelength Dependent Loss)測定
- 波長可変光源 TSL-770 / TSL-710 / TSL-550
- 光パワーメータ MPM-210
3. WDL(Wavelength Dependent Loss)測定 (他社パワーメータ)
- 波長可変光源 TSL-770 / TSL-710 / TSL-550
- Swept Processing Unit SPU-100
- 光パワーメータ (ロギング機能必要)
例）Keysight社製 816 x A / B, 774 x A パワーメータ
フォトディテクタ + DAQ
ソフトウェア(LabVIEW. / Visual Studio / Phython)
測定中はサーバーの波長可変光源は所定の範囲を連続的に掃引し続けます。 したがって、各ステーションでは他のステーションから独立して自由なタイミングで測定することが可能です。
このように、本システムは高精度な特性を維持しながら検査、評価の効率化をさらに図ることが可能です。
- Tunable Laser TSL-710/TSL-550
- Polarization Controller PCU-100
- Multi-Branch Unit/MBU-100
- Optical Power Meter MPM-210
|
Parameter
|
Unit
|
Specications
|
Notes
|
|||
|
TSL-550
|
TSL-710
|
TSL-770
|
||||
|
Type A
|
Type C
|
–
|
–
|
|||
| Wavelength Accuracy *1 (typ.) (Absolute) |
pm
|
± 16
|
± 4.4
|
± 2.4
|
± 1.6
|
at 10 nm/s |
|
± 18
|
± 7.2
|
± 4.7
|
± 2.3
|
at 50 nm/s | ||
| Wavelength Accuracy (typ.) (Relative) |
pm
|
± 8
|
± 3.1
|
± 1.6
|
± 1.3
|
at 10 nm/s |
|
± 11
|
± 5.9
|
± 4.2
|
± 2.0
|
at 50 nm/s | ||
| Wavelength Repeatability *2 |
pm
|
± 6
|
± 1.9
|
± 1.0
|
± 0.6
|
at 10 nm/s |
|
± 8
|
± 3.8
|
± 2.8
|
± 0.9
|
at 50 nm/s | ||
| Scan Speed |
nm/s
|
1 to 100
|
1 to 100
|
1 to 100
|
1 to 200
|
|
| Dynamic Range for Insertion Loss (typ.) |
dB
|
80
|
||||
| Dynamic Range for PDL (typ.) |
dB
|
0 to 5
|
||||
| Measurement Time for IL (typ.) |
sec
|
3.5
|
3.5
|
3.5
|
4
|
at 50 nm/s *4, *5 |
| Measurement Time for IL / PDL (typ.) |
sec
|
12.5
|
12.5
|
12.5
|
14
|
at 50 nm/s *4, *5 |
| Wavelength Resolution |
pm
|
0.1
|
||||
| IL Accuracy (typ.) |
dB
|
± 0.02
|
0 to 20 dB Device IL | |||
|
± 0.1
|
20 to 40 dB Device IL | |||||
| IL Repeatability *2, *3 (typ.) |
dB
|
± 0.02(± 0.01 (typ.))
|
||||
| IL Resolution |
dB
|
0.001
|
||||
| PDL Accuracy (typ.) |
dB
|
±(0.02 + 3 % of PDL)
|
0 to 20 dB Device IL | |||
|
±(0.15 + 3 % of PDL) (typ.)
|
20 to 40 dB Device IL | |||||
| PDL Repeatability *2, *3 (typ.) |
dB
|
± 0.01
|
||||
| PDL Resolution |
dB
|
0.01
|
||||
| Communication |
–
|
USB (USB 2.0 High Speed)
|
MPM-210 / SPU-100 | |||
|
GP-IB (IEEE488.2)
|
TSL Series / MPM-210 / PCU-110 | |||||
| Operating Temperature |
°C
|
15 to 35
|
||||
| Operating Humidity |
%
|
< 80
|
non-condensing | |||
*: All specifications are quoted after 1 hour warm-up period.
All specifications applies with santec optical power meter MPM-210.
*1: Temperature within 25°C ± 5°C
*2: Temperature within 25°C ± 1°C
*3: Does not include influence of connector.
*4: The measurement condition is within wavelength resolution 5 pm, wavelength range 50 nm for 1 channel.
*5: Measurement dynamic range per scan is up to 40 dB.
光部品評価に最適なマルチポート光パワーメータ
MPM-210/MPM-211, 212, 213
複数ポートの光部品の光学特性を高速測定可能- 高速測定可能 (各ポートで最大100万ロギングポイント)
- パワーメーターモジュール (MPM-211 / 212)
- 電流計モジュール (MPM-213)
- 1台で最大20ポート測定可能（複数台同時使用可能）
MPM-210は、波長選択スイッチ（WSS）、AWGモジュールなどのマルチポート光部品の挿入損失(Insertion Loss)およびWDL / PDL測定に最適です。パワーモニター出力を備えた弊社波長可変光源(TSLシリーズ)と組み合わせることで、リアルタイムで光源の光出力変動をキャンセルし高精度にLoss測定が可能です。
光学特性評価システムの詳細は、Swept Test System を参照ください
- 高速測定
- 従来モデルの15倍のデータ転送
- 1ポートあたり最大100万ポイントのロギングサンプリングが可能
ポートごとに2つのメモリを搭載し、ロギング中も読み出しが可能
- 最大100 kHzの高速サンプリングが可能 - 高ダイナミックレンジ（ロギングモード時）
- 従来モデルの1.5倍のダイナミックレンジ (約50 dB） - 波長範囲 1250 - 1650 nm
- パワーメーターモジュール（MPM-211 / 212）
ダイナミックパワーレンジ - 80 to + 10 dBm - 電流計モジュール（MPM-213）
入力パワーレンジ - 70 to + 10 dBmA - 最大5モジュール搭載可能(最大20ポートを同時測定可能)
- アナログ出力搭載 （MPM-212）
- 光パワー測定
- IL / WDL / PDL測定 (Swept Test System)
Main frame, MPM-210
|
Parameter
|
Unit
|
Specifications
|
Notes
|
|
| Module number |
–
|
Up to 5
|
||
| Interface | For Power meter |
–
|
GP-IB, Ethernet, RS-232C
|
|
| For System |
–
|
USB
|
||
| Trigger input |
–
|
TTL (3.3 V)
|
BNC
|
|
| Trigger output |
–
|
TTL (3.3 V)
|
BNC
|
|
| Power monitor |
V
|
0 to 3
|
BNC
|
|
| Supply voltage |
V
|
AC 100 to 240, 50 / 60 Hz
|
||
| Maximum power consumption |
VA
|
50
|
||
| Operating temperature |
deg
|
10 to 40
|
||
| Operating humidity |
%
|
< 80
|
non condensing
|
|
| Weight |
kg
|
6
|
||
| Dimensions (W) x (D) x (H) |
mm
|
210 x 350 x 133
|
||
Power meter module, MPM-211(4ch), MPM-212(2ch)
|
Parameter
|
Unit
|
MPM-211
|
MPM-212
|
Notes
|
| Sensor element |
–
|
InGaAs
|
||
| Wavelength range |
nm
|
1250 to 1680
|
||
| Specification wavelength range |
nm
|
1250 to 1630
|
||
| Power dynamic range |
dBm
|
- 80 to + 10
|
||
| Maximum safe power |
dBm
|
+ 16
|
||
| Total uncertainty |
%
|
+/- 5 @- 60 to 9 dBm
|
||
| Power resolution |
dB
|
0.001
|
||
| Linearity *1 |
dB
|
+/- 0.03 @- 55 to 9 dBm
|
Averaging time > 100 ms
|
|
| Polarization dependent responsivity (typ.) *1, 2 |
dB
|
< 0.025
|
@1525 to 1585 nm
|
|
|
< 0.03
|
@1270 to 1630 nm
|
|||
| Averaging time |
sec
|
10μ to 10
|
||
| Port number per module |
–
|
4 ports
|
2 ports
|
|
| Analog output *3 |
None
|
With
(2 ports) |
||
| Data logging capability |
–
|
1,000,000 x 2 buffer per port
|
||
| Connector type |
–
|
FC
|
||
| Operating temperature |
deg
|
10 to 40
|
||
| Operating humidity |
%
|
< 80
|
non condensing
|
|
| Dimensions (W) x (D) x (H) |
mm
|
30.3 x 183.5 x 114.8
|
Connectors are not included.
|
|
*1: Temperature: 23 +/- 5 deg C
*2: SMF, Straight connector
*3: Output voltage 0 to 2 V, Measurement dynamic range > 30 dB (typ.)
Current meter module, MPM-213
|
Parameter
|
Unit
|
New model, MPM-213
|
Notes
|
| Current dynamic range |
dBmA
|
- 70 to + 10
|
100 pA to 10 mA
|
| Maximum safe power |
dBmA
|
16
|
|
| Total uncertainty |
%
|
+/- 5 @- 45 to 9 dBm
|
100 pA to 10 mA
|
|
+/- 1 @>- 35 dBm (typ.)
|
Averaging time > 10 ms
|
||
| Power resolution |
dB
|
0.001
|
|
| Linearity |
dB
|
+/- 0.03
|
@- 45 to + 9 dBmA, Averaging time > 10 ms
|
| Averaging time |
sec
|
10μ to 10
|
|
| Port number per module |
–
|
4 ports
|
|
| Data logging capability |
–
|
1,000,000 per port x2
|
|
| Connector type |
–
|
BNC Connecter
|
|
| Reverse Bias Voltage |
V
|
–
|
|
| Operating temperature |
deg
|
10 to 40
|
|
| Operating humidity |
%
|
< 80
|
non condensing
|
| Dimensions (W) x (D) x (H) |
mm
|
30.3 x 183.5 x 114.8
|
Connectors are not included.
|
フォトディテクタ・アレイ
MPA-100
MPA-100はピグテイル型フォトディテクタ・アレイのラック・マウント型製品です。
【特徴】- 複数信号モニタ: 32, 48, 64, 72, and 80 ch
- 動作波長範囲: 850nm、1260 to 1610 nm
- 光入力パワー範囲: - 50 to + 3 dBm per channel
- 光ノイズ限界: - 63 dBm @ 1550 nm
- 出力リニアリティ: 0.2 dB typ. ＠入力光パワー範囲(- 50 to - 10 dBm)
- MPOアダプタ / 多芯MPO, MTP コネクタ
- 電圧出力 / USBインターフェース
- 波長、光パワー、出力電圧の校正表添付
- 寸法: (W)482.6 x (D)430 x (H)44 mm, 1Uサイズ
- 各種カスタムモデルにも対応
MPA-100はピグテイル型フォトディテクタ・アレイのラック・マウント型製品です。MPO・MTP多芯コネクタより入力される複数の光パワー信号をモニタします。波長850 nm帯を検出するシリコンタイプと波長1260 to 1610 nm帯を検出するInGaAsタイプの光検出器よりお選び頂けます。光電流は内蔵する16ビットのマルチ信号DAQインターフェースを介して、USB端子より電圧出力されます。製品寸法は(W)482.6 x (D)430 x (H)44 mmでスリムな1U規格の高集積化が実現しました。MPA-100は最大80チャンネルまでの光パワーモニタが可能で、優れたコスト・パフォーマンスと小空間実装スペースを提供します。MPA-100はデータコムで用いられるIEEE802.3 ba規格のSR4、SR10、LR4、ER4等 40 GbE / 100 GbE光伝送デバイス・機器の光パワーモニタ監視やトランシーバ製品の検査等に最適です。MPA-100はピグテイル型フォトディテクタの他、例えば入力光の5%の光パワーをモニタして、残りは光ファイバで戻すタップPD型フォトディテクタ・アレイも対応します。
10分の1のコスト・パフォーマンスを実現（一般的な光パワー計測器比）
- MPA-100はユーザーによる電圧・dBm校正頂くことで、必要な機能とコストを徹底的に絞り込むことで、一般的な光パワー計測器に比べて、10分の1以下のチャンネル当たりのコストが実現しました。
10倍以上の高集積化を実現（一般的な光パワー計測器比）
- MPA-100は一般的な光パワー計測器に比べて、その高集積設計により10倍以上の集積性を実現しました。（実装スペースは10分の1）
入力光パワー vs 出力電圧
Ordering code
- データコム、ブロードバンド/ CATVネットワーク、テレコム通信機器等の光パワー検査
- データーセンター光通信機器のパワーモニタ
- アクティブ・オプティカル・ケーブル(AOC)など光インターコネクト信号のパワーモニタ