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Think Precise

光学特性検査装置

当社製品を組合わせて光学特性を測定するコンプリートシステムの提供も行っております。
昨今、測定の高速化や高精度化が求められていますが、お客様のご要望に合わせシステム化を行いますのでお気軽にご相談ください。

Swept Test System for Optical Components

Swept Test System

波長可変光源(TSLシリーズ)、パワーメータ(MPM)、偏波コントロールユニット(PCU-110)、及び、カスタムソフトを組み合わせることで、IL/WDL/PDLをR&Dや生産ラインで効率的に測定、評価していただくことが出来ます。

Multi-Station Measurement

Swept Test SystemにMulti Branch Unitを組み合わせることによって検査、評価の効率化をさらに図ることが可能です。


Swept Test System introduction video
( Multi-station measurement )

OTF-350


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波長可変光源 (TSLシリーズ)とマルチポートパワーメータ(MPMシリーズ)、偏光制御ユニット(PCU-110)および専用ソフトウェアを組み合わせたSwept Test Systemは、光学デバイスの研究開発や生産現場の両場面で最適な評価ツールとなっております。波長可変光源からの出力パワーをリアルタイムにリファレンスしDUTを透過した光パワーを同時に取得することで、高精度にIL/WDL/PDLが測定可能です。本システムは、ミュラーマトリックス法を使用してPDLを算出しています。

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  • リアルタイムパワーリファレンス
  • 高精度にIL/WDL / PDL特性測定可能
    - 高いIL再現性<± 0.02 dB
    - 高いPDL再現性± 0.01 dB
  • スケーリングアルゴリズム
    - 高い波長分解能と波長精度で測定可能
    - 測定時間の短縮が可能
  • マルチチャンネル測定が可能
  • グラフィカルユーザーインターフェースとDLLのサポート(Visual Studio)
    - 測定パラメーターを簡単に設定可能
    - データ分析

WDL(波長依存損失)測定

80 dB以上の高ダイナミックレンジ測定

当社の波長可変光源TSLシリーズは、光ASEノイズを低減する革新的な設計による共振器が搭載されており、非常に高い信号対雑音比と高い光出力パワーの実現を両立しています。そのため本システムは、高ダイナミックレンジ特性を有する光部品を複数ポート同時に特性評価が可能です。
次の図は、それぞれCWDMフィルターとノッチフィルター(FBGなど)の測定データを示しています。

80 dB以上の高ダイナミックレンジ測定
80 dB以上の高ダイナミックレンジ測定


高波長精度+/- 3 pm

TSLシリーズには、標準で波長モニターが装備されているため、光部品を高精度に測定することが可能です。
次の図は、アセチレン(12C2H2)ガスの吸収線を測定波長したもので、非常に高い測定精度で測定できていることがわかります。

高波長精度+/- 3pm
高波長精度+/- 3pm


0.1 pm未満の高波長分解能

本システムは、WDM用光部品だけでなく狭線幅フィルターも高い波長分解能でWDL及びPDL測定が可能です。
図は、Ultra-high Q キャピティデバイスを測定したもので、0.1 pm以下の分解能で測定できていることがわかります。

0.1pm未満の高波長分解能 
  • 光部品、モジュール評価
    - 波長選択スイッチ(WSS)、AWG、波長ブロッカー
    - 波長可変フィルタ、インターリーバ、FBG、カプラ、アイソレータ、光スイッチ
    - DWDM 部品
  • フォトニックデバイス/マイクロキャビティ共振器評価
  • 分光計測
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構成例

1. PDL(Polarization Dependent Loss)測定

1/ Polarization Dependent Loss measurement

    • 波長可変光源 TSL-770 / TSL-710 / TSL-550
    • 偏波コントローラ PCU-110
    • 光パワーメータ MPM-210

2. WDL(Wavelength Dependent Loss)測定 

2/ Wavelength Dependent Loss measurement (MPM-210)

  • 波長可変光源 TSL-770 / TSL-710 / TSL-550
  • 光パワーメータ MPM-210
3. WDL(Wavelength Dependent Loss)測定 (他社パワーメータ)

3/ Wavelength Dependent Loss measurement (Any other power meter)
  • 波長可変光源 TSL-770 / TSL-710 / TSL-550
  • Swept Processing Unit SPU-100
  • 光パワーメータ (ロギング機能必要)
    例)Keysight社製 816 x A / B, 774 x A パワーメータ
    フォトディテクタ + DAQ
ソフトウェア(LabVIEW. / Visual Studio / Phython)
マルチステーション測定システムでは、波長可変光源、偏波コントローラー、マルチブランチユニットをサーバーとして機能させ、これらから光とトリガー信号を分岐して各ステーションに送ります。 そして、各ステーションはパワーメーターとPCだけで構成されます。

測定中はサーバーの波長可変光源は所定の範囲を連続的に掃引し続けます。 したがって、各ステーションでは他のステーションから独立して自由なタイミングで測定することが可能です。

このように、本システムは高精度な特性を維持しながら検査、評価の効率化をさらに図ることが可能です。
SweptTestSystem_Multi-station-PDLSystem.png
  • Tunable Laser TSL-710/TSL-550
  • Polarization Controller PCU-100
  • Multi-Branch Unit/MBU-100
  • Optical Power Meter MPM-210
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Parameter
Unit
Specications
Notes
TSL-550
TSL-710
TSL-770
Type A
Type C
Wavelength Accuracy *1 (typ.) (Absolute)
pm
± 16
± 4.4
± 2.4
± 1.6
at 10 nm/s
± 18
± 7.2
± 4.7
± 2.3
at 50 nm/s
Wavelength Accuracy (typ.) (Relative)
pm
± 8
± 3.1
± 1.6
± 1.3
at 10 nm/s
± 11
± 5.9
± 4.2
± 2.0
at 50 nm/s
Wavelength Repeatability *2
pm
± 6
± 1.9
± 1.0
± 0.6
at 10 nm/s
± 8
± 3.8
± 2.8
± 0.9
at 50 nm/s
Scan Speed
nm/s
1 to 100
1 to 100
1 to 100
1 to 200
 
Dynamic Range for Insertion Loss (typ.)
dB
80
 
Dynamic Range for PDL (typ.)
dB
0 to 5
 
Measurement Time for IL (typ.)
sec
3.5
3.5
3.5
4
at 50 nm/s *4, *5
Measurement Time for IL / PDL (typ.)
sec
12.5
12.5
12.5
14
at 50 nm/s *4, *5
Wavelength Resolution
pm
0.1
 
 
IL Accuracy (typ.)
dB
± 0.02
0 to 20 dB Device IL
± 0.1
20 to 40 dB Device IL
IL Repeatability *2, *3 (typ.)
dB
± 0.02(± 0.01 (typ.))
 
IL Resolution
dB
0.001
 
PDL Accuracy (typ.)
dB
±(0.02 + 3 % of PDL)
0 to 20 dB Device IL
±(0.15 + 3 % of PDL) (typ.)
20 to 40 dB Device IL
PDL Repeatability *2, *3 (typ.)
dB
± 0.01
 
PDL Resolution
dB
0.01
 
Communication
USB (USB 2.0 High Speed)
MPM-210 / SPU-100
GP-IB (IEEE488.2)
TSL Series / MPM-210 / PCU-110
Operating Temperature
°C
15 to 35
 
Operating Humidity
%
< 80
non-condensing

*: All specifications are quoted after 1 hour warm-up period.
All specifications applies with santec optical power meter MPM-210.
*1: Temperature within 25°C ± 5°C
*2: Temperature within 25°C ± 1°C
*3: Does not include influence of connector.
*4: The measurement condition is within wavelength resolution 5 pm, wavelength range 50 nm for 1 channel.
*5: Measurement dynamic range per scan is up to 40 dB.

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製品マニュアルは、こちらからダウンロード頂けます。

- ソフトウェア -

製品ドライブ及びサンプルソフトは、こちらからダウンロード頂けます。

光部品評価に最適なマルチポート光パワーメータ

MPM-210H/MPM-211, 212, 213, 215

複数ポートの光部品の光学特性を高速測定可能

  • 高速測定可能 (各ポートで最大100万ロギングポイント)
  • 1台で最大20ポート測定可能(複数台同時使用可能)
  • パワーメーターモジュール (MPM-211 / 212 / 215)
  • 電流計モジュール (MPM-213)
MPM-210
MPM-210H/MPM-211, 212, 213, 215


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MPM-210Hは、波長選択スイッチ(WSS)、AWGモジュールなどのマルチポート光部品の挿入損失(Insertion Loss)およびWDL / PDL測定に最適です。パワーモニター出力を備えた弊社波長可変光源(TSLシリーズ)と組み合わせることで、リアルタイムで光源の光出力変動をキャンセルし高精度にLoss測定が可能です。
光学特性評価システムの詳細は、Swept Test System を参照ください

  • 高速測定
    1ポートあたり最大100万ポイントのロギングサンプリングが可能
    ポートごとに2つのメモリを搭載し、ロギング中も読み出しが可能
    最大100 kHzの高速サンプリングが可能
  • 高ダイナミックレンジ
    -80 ~ +10dBm (MPM-211 / 212)
    -70 ~ +5dBm (MPM-215)
  • 高ダイナミックレンジ(ロギングモード時)
    50dB/scan (MPM-211 / 212)
    70dB/scan (MPM-215)
  • 電流計モジュール(MPM-213)
    入力パワーレンジ - 70 to + 10 dBmA
  • アナログ出力搭載 (MPM-212)
  • 最大5モジュール搭載可能(最大20ポートを同時測定可能)
  • 波長範囲 1250 - 1650 nm
  • MPM-210Hは、MPM-210の上位互換モデルとなります
 
Main frame, MPM-210H
Parameter
Unit
Specifications
Notes
Module number
Up to 5
 
Interface For Power meter
GP-IB, Ethernet, RS-232C
 
For System
USB
 
Trigger input
TTL (3.3 V)
BNC
Trigger output
TTL (3.3 V)
BNC
Power monitor
V
0 to 3
BNC
Supply voltage
V
AC 100 to 240, 50 / 60 Hz
 
Maximum power consumption
VA
50
 
Operating temperature
10 to 40
 
Operating humidity
%
< 80
non condensing
Weight
kg
6
 
Dimensions (W) x (D) x (H)
mm
210 x 350 x 133
 

Power meter module, MPM-211(4ch), MPM-212(2ch), MPM-215(4ch)
Parameter
Unit
MPM-211
MPM-212
MPM-215 *2
Notes
Sensor element
-
InGaAs
 
Wavelength range
nm
1250 to 1680
 
Specification wavelength range
nm
1250 to 1630
 
Power dynamic range
dBm
- 80 to + 10
- 70 to + 5  
Dynamic range @Fixed gain (typ.) *2, 3
dB
45
70 Logging mode
Number of gain range
-
5
1  
Maximum safe power
dBm
+ 16
 
Total uncertainty
%
+/- 5 @- 60 to 9 dBm
+/- 5 @>-55 dBm  
Power resolution
dB
0.001
 
 
Linearity *2, 4
dB
+/- 0.03 @- 55 to 9 dBm
+/- 0.02 @>-40 dBm
+/- 0.05 @>-50 dBm
 
Polarization dependent responsivity (typ.) *2, 5
dB
< 0.025
 
 
@1525 to 1585 nm
< 0.03
 
 
@1270 to 1630 nm
Averaging time
sec
10μ to 10
 
 
 
Data logging capability
1,000,000 x 2 buffer per port
 
 
Port number per module
4 ports
2 ports
4 ports  
Analog output *6  
None
With
None  
Connector type
FC
 
 

Current meter module, MPM-213
Parameter
Unit
Specifications
Notes
Current dynamic range
dBmA
- 70 to + 100@ 100pA to 10 mA
 
Dynamic range @Fixed gain (typ.) *2, 3
dB
45 dB
 Logging mode
Number of gain range
-
4
 
Maximum safe power dBmA 16  
Total uncertainty
%
+/- 5 @- 45 to 9 dBm
Averaging time > 10 ms
+/- 1 @>- 35 dBm (typ.)
Averaging time > 10 ms
Power resolution
dB
0.001
 
Linearity
dB
+/- 0.03@ -45 to 9 dBmA
Averaging time > 10 ms
Averaging time
sec
10μ to 10
 
Data logging capability
4 ports
 
Port number per module
1,000,000 per port x2
 
Connector type
BNC Connecter
 
Reverse Bias Voltage
V
-–
 

*1: 1: This module is not compatible with other modules on a same Main Frame.*2: Temperature: 23 +/- 5 ℃, *3: Averaging time >50us, Within ±1 ºC after zeroing, At gain 1, 2 or 3 for MPM-211/212 *4: For MPM-211/212, Averaging time >100ms, Auto range mode, For MPM-215, Averaging time >30us *5: SMF, Straight connector
*6: Output voltage 0 to 2 V, Measurement dynamic range > 30 dB (typ.)

Common information for module
Parameter
Unit
Specifications
Notes
Operating temperature
10 to 40
 
Operating humidity
<80
non condensing
Dimensions (W) x (D) x (H)
mm–
30.3 x 183.5 x 114.8
 Connectors are not included.

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