Evolution of the Tunable Laser

性能・品質を向上させた第7世代スタンダードモデル

TSL-570NEW!

  • 高速掃引:200 nm/sスイープ
  • 高波長精度:±2pm、高波長分解能:0.1 pm

  • 高い信号対雑音比: 90 dB/0.1nm
TSL-770

概要

波長可変光源のレーザ共振器および制御回路を刷新することで、従来機より高速化、高性能化、高品質化を実現しました。これにより、光通信分野やフォトニクスサイエンスで利用されている光学部品の特性評価だけでなく、フォトニック集積回路テスト、量子フォトニクス、分光法、センサー用など様々なアプリケーションで理想的なツールとなっています。

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特性

  • 最大光出力: + 13 dBm
  • 高い信号対雑音比: 90 dB / 0.1 nm
  • 高波長精度:
    - Type A: 標準モデル ± 20 pm
    - Type C: 高精度モデル ± 5 pm
  • 1240 - 1640 nmの広帯域波長範囲対応
    - Ext O-Band      1240 to 1380 nm
    - O-Band            1260 to 1360 nm
    - ES-Band          1355 to 1485 nm
    - CL-Band          1500 to 1630 nm
    - SCL-Band        1480 to 1640 nm
    - U-Band            (to be announced)

- 特性データ例 -


Optical Spectrum
- High Output Power & High Signal-to-Noise Ratio - Optical Spectrum
Wavelength vs. Output power
- Wide Wavelength Range - - Wide Wavelength Range -
Wavelength accuracyWavelength accuracy

 


アプリケーション

  • 光部品、モジュール評価
    - 波長選択スイッチ (WSS)、AWG、波長ブロッカー
    - DWDM 部品
  • フォトニックデバイス/マイクロキャビティ共振器評価
  • 光学分光

    光学特性評価システムの詳細は、Swept Test System参照ください
    お客様の導入事例は、事例紹介を参照ください

 

ダウンロード

- 製品カタログ -

TSL-570

- 製品マニュアル -

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