Beyond Imaging
光学断層測定器
当社の光学断層測定器 「Inner Vision」 IVS シリーズは、波長掃引型OCT（Swept-Source OCT）を測定原理として用いております。 IVS シリーズは、研究開発、工業製品のインライン検査など様々な分野でご利用頂けるシステムで、波長掃引光源 「HSL シリーズ」を始め、自社開発の最先端のコンポーネントから構成されており、リアルタイムの 2D または 3D OCT画像を高解像度で提供します。 ハードウェア、ソフトウェア共にご要求に応じたカスタマイズが可能です。
波長掃引型OCT（Swept-Source OCT）とは？
OCT(光コヒーレンストモグラフィ)は、近赤外光を用いた非侵襲、非接触なイメージング技術で、生体組織や物の内部を見ることが可能です。原理はサンプルからの後方散乱光と参照光との干渉光の周波数分析を行うもので、内部構造を詳細に可視化できます。
光学断層測定器 製品ラインアップ
| Model No. | 中心波長 | 特徴 | 光源 |
|---|---|---|---|
| 超高速・ロングイメージングレンモデル IVS-1000-VCSEL |
1060 nm | 超高速測定 極めて長い測定レンジ |
Tunable VCSEL |
| 高分解能モデル IVS-2000-HR |
1310 nm | 高い分解能 | Polygon External Cavity |
| 高速測定モデル IVS-2000-HS |
1310 nm | 高速測定 | MEMS External Cavity |
| ロングイメージングレンジモデル IVS-2000-LC |
1310 nm | 長い測定レンジ | MEMS External Cavity |
| スタンダードモデル IVS-2000-ST |
1310 nm | シンプル、低価格 | Polygon External Cavity |
【特徴】
- 非接触、非破壊、非侵襲測定
- 最大 30 fpsのリアルタイム・イメージング
- １D、２D、３Ｄのイメージング機能
- 測定データの連続保存機能
- スキャン角度は自由に設定可能
- OCTの画像データや、生データの入出力
- 画像解析用のソフトウェア（オプション）
- ハードウェア、ソフトウェアの要求に応じたカスタマイズ（オプション）
- SDK（LabVIEW、C++、C#）
光学断層測定
カタログ
光学断層測定器 超高速・ロングイメージングレンジモデル
IVS-1000-VCSEL
【特徴】
IVS-1000-VCSEL は、イメージングレンジを可変できる特徴を持つ中心波長 1060 nm帯のSS-OCTシステムです。この波長帯では、光が水に吸収されにくく、網膜のイメージングなどの水分を多く含む対象物の測定に適します。また、イメージングレンジが70 mm以上と長く、比較的大きな測定物の３次元形状測定にも適します。スキャンスピードや測定レンジ（深度）が可変できるため、測定物に適した、自由度の高い測定が可能です。
【主要用途】
- ３次元形状測定
- 水浸物のイメージング
- 網膜イメージング
- 眼軸長測定
【主要特性】
- 中心波長: 1060 nm
- A-lineレート: 10 - 400 kHz（選択可能）
- 光軸方向分解能 : < 15 μm (空気中）
眼科イメージ
光学断層測定器 高分解能モデル
IVS-2000-HR
【特徴】
IVS-2000-HR は、高い分解能を持つ中心波長 1310 nm帯のSS-OCTシステムです。この波長帯は、散乱体でも光が深達しやすく、散乱の強い対象物の測定に適します。また、IVSシリーズで最も高い分解能（生体内で 5 μm以下）を有し、より高い分解能、高い解像度での測定が可能です。
【主要用途】
- 産業用デバイスの微小構造イメージング、膜厚計測
- 化粧品、医薬品開発のための皮膚イメージング
- がん組織イメージング
【主要特性】
- 中心波長: 1310 nm
- A-lineレート: 20 kHz
- 高軸方向分解能 : < 9 μm (空気中）
皮膚イメージ
光学断層測定器 高速測定モデル
IVS-2000-HS
【特徴】
IVS-2000-HS は、高速測定が可能な中心波長 1310 nm帯のSS-OCTシステムです。この波長帯は、散乱体でも光が深達しやすく、散乱の強い対象物の測定に適します。
また、高速（100 kHz）測定により、インライン検査等での測定時間を短縮できます。
【主要用途】
- 高速計測が求められるインライン検査
- 溶接モニタリング
- 冠動脈、内視鏡イメージング
【主要特性】
- 中心波長: 1310 nm
- A-lineレート: 100 kHz
- 高軸方向分解能 : < 18 μm (空気中）
インライン検査
光学断層測定器 ロングイメージングレンジモデル
IVS-2000-LC
【特徴】
IVS-2000-LC は、深いイメージングレンジを持つ中心波長 1310 nm帯のSS-OCTシステムです。この波長帯は、散乱体でも光が深達しやすく、散乱の強い対象物の測定に適します。また、深いイメージングレンジ（空気中で 18 mm 以上）により、高低差のある測定物も一括で３次元測定をする事が可能です。
【主要用途】
- 深い測定レンジが求められるデバイス計測
- 歯、前眼部イメージング
【主要特性】
- 中心波長: 1310 nm
- A-lineレート: 50 kHz
- 高軸方向分解能: < 18μm (空気中）
複合レンズ
光学断層測定器 スタンダードモデル
IVS-2000-ST
【特徴】
IVS-2000-ST は、高い繰り返し精度を持つ中心波長 1310 nm帯のSS-OCTシステムです。この波長帯は、散乱体でも光が深達しやすく、散乱の強い対象物の測定に適します。また、測定の繰り返し精度が高く、コストも低く抑えられることから、インライン測定でも多く使われています。
【主要用途】
- SS-OCT入門機
- 高精度インライン検査
- ウエハー厚さ、形状計測
【主要特性】
- 中心波長: 1310 nm
- A-lineレート: 20 kHz
- 高軸方向分解能: < 18 μm (空気中）
シリコンウェハー検査