波長可変レーザー
(TSL-570)

• 優れた波長安定性
• 豊富なラインアップ　1240～1680nm
• 高速波長掃引：200 nm/s

光学特性検査システム
(Swept Test System)

• リアルタイムパワーリファレンス
• 高い波長分解能と波長精度
• 高高精度にWDL/PDL特性測定可能
• IL再現性：±0.02 dB
• PDL再現性：±0.03 dB
• オペレーションソフトウェア付属

波長掃引型フォトニクスアナライザ
(SPA-100)

• 高分解能 <5μm
• 広いダイナミックレンジ： >70dB
• WDL測定可能：1480～1640nm
• 分析ソフトウエア付属